Томские ученые создали нейросеть, оценивающую качество отечественной микроэлектроники

Как сообщает пресс-служба вуза, ученые ТГУ при поддержке РНФ разработали математическую модель и программное обеспечение для дефектоскопии снимков интеллектуального рентгеновского 3D-микротомографа.

По словам разработчиков, на этапе тестирования продукта было установлено, что разработанное алгоритмическое и программное обеспечение превосходит по точности, помехоустойчивости и быстродействию аналогичные технологии США, Китая, Тайваня и других стран.

– Современная радиоэлектронная аппаратура содержит огромное количество радиокомпонентов (деталей), например, это печатные платы, разъемы, микросхемы, резисторы, которые могут иметь внешние и внутренние дефекты. Для их диагностики была обучена нейросеть, при этом использовано 1 500 эталонных и 10 000 дефектных изображений материалов и элементов РЭА, – рассказал заведующий международной лабораторией «Системы технического зрения» научного управления ТГУ Владимир Сырямкин.

Image by freepik

Отмечается, что результаты проекта уже используются в промышленности для дефектоскопии элементов РЭА и другого оборудования.

«Проводится организационная работа по внедрению результатов проектов ТГУ на предприятиях Роскосмоса, в их числе «Информационные спутниковые системы (ИСС)» имени академика М.Ф. Решетнева», – уточнили в вузе.