В Томске разработан чип для тестирования качества рентгеновского микротомографа

Источник изображения: сайт ТПУ

Как сообщили в пресс-службе ТПУ, чип размером с рисовое зерно позволяет точно измерить, насколько детально томограф «видит» структуры внутри образцов. Разработка универсальна и подходит как для калибровки научного оборудования, так и для тестирования новых алгоритмов сканирования.

Утверждается, что с его помощью можно проверить пространственное разрешение изображения томограммы, минимальный размер детектирования отдельно стоящей точки, точность масштаба изображения и неравномерность разрешающей способности в зависимости от направления измерения в пространстве.

– На данный момент в России промышленные микротомографы с метрологической точки зрения не могут выступать в качестве средства измерения с разрешающей способностью до 1 мкм. Дело в том, что в системе государственных мер не зарегистрировано ни одной меры или тестового объекта, с помощью которого можно доказать, что томограф может отобразить структуры размером до 1 мкм внутри исследуемого объекта. В России аналогов разработке нет, в мире подобные чипы изготавливаются только в Германии и Японии, – рассказал проректор по науке и стратегическим проектам ТПУ Алексей Гоголев.

По его словам, использовать такие чипы можно не только для тестирования томографов, но и для испытания новых алгоритмов реконструкции и протоколов сканирования.