НОК региона продолжает создавать задел для возрождения отечественной микроэлектроники.
Источник фото: сайт ТГУ
Как сообщает ТАСС, в Томском госуниверситете разработана система автоматического бесконтактного контроля дефектов в полупроводниковых пластинах.
«Установка позволяет проводить бесконтактный неразрушающий контроль объемных и поверхностных дефектов в полупроводниковых пластинах. Использование инфракрасного сканера, разработанного в ТГУ, обеспечит отбраковку некачественных пластин и тем самым будет способствовать повышению выхода годных пластин при изготовлении различных полупроводниковых приборов», – указано в материале.
Отмечается, что новый подход контроля продукции с использованием ИК-излучения позволит существенно сократить финансовые затраты и время на исследование дефектов в структуре пластин для интегральных микросхем.
Прибор уже запущен в опытную эксплуатацию специалистами московского НИИ приборостроения им. В. В. Тихомировича. Предприятие является одним из ведущих российских производителей приборов для ВПК и гражданской сферы.
Владимир Путин
Президент России
Экономическая динамика в России в целом соответствует нашим ожиданиям. По оценке, по итогам всего текущего года рост валового внутреннего продукта будет находиться в пределах одного процента.
Президент региональной ассоциации пищевиков Владимир Кривовяз рассказал о проблемах томских производителей продуктов питания.
